物聯網應用範圍越廣 元件測試挑戰越大
- 劉慧蘭/綜合報導
物聯網(IoT)元件測試正面臨新挑戰,部分元件可以和標準半導體一樣進行測試,但有些元件如強調安全性的微控制器和醫療設備、軍事/航太系統和汽車電子等裝置使用的晶片,則需要另訂測試標準,確保符合功能性的安全要求。
據Semiconductor ...
會員登入
會員服務申請/試用
申請專線:
+886-02-87125398。
(週一至週五工作日9:00~18:00)
+886-02-87125398。
(週一至週五工作日9:00~18:00)
關鍵字