TELEDYNE發表全新感應耦合電漿原子發射光譜儀

TELEDYNE發表全新ICP-OES、Prodigy Plus。

感應耦合電漿原子發射光譜儀(Inductively Coupled Plasma- Optical Emission Spectrometry；ICP-OES)這項技術，是將霧化的樣品利用氬氣流承載導入超高溫氬氣電漿中激發，使所含元素呈現激態原子化。

當不同元素的激態原子回到較低能階時，會各自發射出特定波長的譜線，利用光譜儀檢測譜線的波長可做樣品內元素的定性與定量分析，偵測極限依元素各異，可達到ppb甚至sub-ppb等級。

自1960年代ICP-OES被開發利用於無機元素(包含鹵素)微量分析以來，時至今日，無論是電子廠製程與排污、化工材料製品、生物製藥樣本、地質與環境各項監測，此技術已廣泛且大量地應用於各項產業之中。因為此檢測技術具備了速度快、可分析多種元素、偵測極限低、線性分析範圍廣、樣品需求少等多項優點。

辛耘企業(證交所股票代號：3538)所代理-TELEDYNE LEEMAN LABS，為專業製造ICP-OES的美國知名品牌，整合其多年研發經驗，於近期發表旗下所屬全新機種-Prodigy Plus。

與市場上現有機種相比，此新機具有下列特點優勢：採用業界最新且面積最大CMOS感測器(28x28mm，4倍大於既有機種)，具備高解析度、大範圍波長讀取(134？1,100mm)、單次檢測全譜直讀、曝光讀取速度快且線性範圍大、抗迷光設計、降低氬氣使用成本等優點。另外具備最長分光路徑(800mm)，用以產生最佳分光效果，也是讓Prodigy Plus具有極高解析度的因素。

辛耘企業資深副總謝孟嚴表示：「微量元素分析在各產業都是最基本也最重要的需求，無論對於製程、污染、或是純度的各項檢測。辛耘引進國外各式最新技術與設備，已有近40年的商業經驗。這次能夠引進TELEDYNE最新發表的ICP，希望能夠成為台灣相關應用業者的最佳夥伴。」

如今半導體產業已走向個位數奈米製程的後摩爾定律時代，無論是PCB電鍍槽液的濃度與雜質，或是用來蝕刻、研磨、清潔的各項化學溶液與藥劑，其純淨度-是否受雜質汙染，對於製程良率皆會造成莫大的影響。另外對於後段排污的嚴格把關，其中是否含有微量有害於環境人體的各項元素，更是主要的企業責任。TELEDYNE Prodigy Plus相信能為企業用戶帶來微量分析解決方案的另一項新選擇。