是德科技協助銳迪科微電子加速進行NB-IoT晶片測試

是德科技協助銳迪科微電子加速進行NB-IoT晶片測試，晶片、模組和裝置製造商可使用是德科技測試解決方案來驗證和改進射頻效能。

是德科技(Keysight Technologies Inc.)日前宣布其領先業界的窄頻物聯網(NB-IoT)射頻效能測試解決方案獲銳迪科微電子(RDA)選用，協助該公司加快NB-IoT晶片組測試。

NB-IoT是國際標準組織3GPP專為IoT設計的窄頻蜂巢式無線技術。NB-IoT的深度覆蓋範圍和超低的功耗，在晶片研發方面帶來了全新的挑戰，工程師必須在新的運作模式下嚴密測試射頻效能。在研發過程中，晶片製造商必須全面評估他們的產品在各種實際運作模式下的射頻效能，以確保穩定的連接和完整的覆蓋範圍。

是德科技和RDA正就NB-IoT測試專案展開密切合作，以提供業界最高品質的NB-IoT晶片組。藉由使用是德科技的NB-IoT測試解決方案，RDA可設定晶片組在不同的模式下運作，以便嚴密地測試其射頻效能，進而加快整體開發進度。

是德科技無線晶片組事業群副總裁暨總經理Giampaolo Tardioli表示，「Keysight E7515A UXM無線測試儀是領先業界的NB-IoT測試解決方案，可協助工程師量測晶片之射頻效能。藉由與RDA等產業領導廠商合作，我們可提供完整且易於擴充的解決方案，讓客戶能更快地實現上市時間和成本目標。」

RDA研發部副總裁Jingming Wang表示，「RDA一直與是德科技維持緊密的合作關係，是德科技提供的NB-IoT射頻效能測試解決方案讓我們的工程師能夠儘快發現問題，如此可大幅加快我們的研發進度。RDA未來將與是德科技進行更深入的合作。」