愛德萬測試於快閃記憶體高峰會推出最新固態硬碟測試機

半導體測試設備領導供應商愛德萬測試在2017年8月8日至10日，於加州聖克拉拉會議中心(Convention Center)舉行的2017年度快閃記憶體高峰會(Flash Memory Summit)上，展示旗下MPT3000系列固態硬碟(SSD)測試解決方案的最新測試機，並發表兩篇技術論文。

愛德萬測試為2017年峰會的翡翠級贊助商。愛德萬測試將在第606至608號攤位展示旗下MPT3000平台新推出的兩款最新解決方案，為原本便已支援的SSD協定與規格再添生力軍。最新的MPT3000HES採用與MPT3000全系列相同的硬體、軟體、熱性能與介面，但是配置更精巧，專為「完全複製」(copy exactly)工程與較小規模的應用而設計。

此外，新的Smart Power解決方案是針對內建自我測試電路(BIST)需求推出的超低成本選項，可應用於生產測試，其低速串列介面可與協定測試達到最佳協同作用。

愛德萬測試亦將於攤位上透過數位螢幕和筆記型電腦展示經濟實惠的T5851測試機，該機台是專為通用快閃儲存(UFS)裝置和PCle BGA記憶體而設計。此系統同樣採用MPT3000產品家族已通過驗證之測試架構。

愛德萬測試技術專家於本屆峰會上探討測試議題的201-C議程中，發表兩篇技術論文，演講時間於8月9日(三)上午8:30。愛德萬測試的Vishal Devadiya以「為SSD品質認證測試做好準備」(Preparing SSDs for Qualification Testing) 為題發表演說；而Ben Rogel Favila則會和與會貴賓討論「專為SSD測試最佳化所設計的可擴展平台」(A Scalable Platform for Optimal SSD Test)。