愛德萬針對新一代NAND快閃記憶體預燒測試機

領先業界的半導體測試設備領導供應商愛德萬測試推出最新一代B6700系列記憶體預燒測試機的兩組機種。B6700L和B6700S型號機種不但可降低測試成本，同時提高了伺服器和行動數據儲存應用環境的NAND快閃記憶體測試能力。

「藉由擴充B6700系列產品的廣度，我們為全球市場提供了更大的靈活性，以滿足未來幾年NAND快閃記憶體三倍需求的成長量」 ，愛德萬測試記憶體事業體副總Takeo Miura指出。「公司新推出的兩套大批量測試解決方案，將幫助客戶從投資中獲得更多回報，並保持與現有生產網路連接之便利性。」

系列中的初始機種– 也就是10月發布之B6700D – 設計上著重於平行操作， 通過預燒期間NAND快閃記憶體設備的功能評估，新一代記憶體裝置之測試成本將大幅降低。與之前的系列產品相比，本系統的許多關鍵功能增加一倍，其中包括兩倍的輸入通道和電源容量以及雙槽式設計。

新型B6700L測試機與B6700D相同的環境結構，並能適應更寬廣的溫度範圍。設備能夠在-40°C~150°C的範圍內以0.1°C的增量進行溫度控制測試，本系統適用於可靠性測試和汽車設備測試。B6700L可同時測試多達12組B6700D相容特性的預燒板(BIB)和測試程序。

新的零佔用空間B6700S系統針對NAND快閃記憶體提供極低成本的測試解決方案，同時提供與其系列機種相同功能。B6700S可提供B6700D的單元化功能，並嵌入用於單晶圓等級測試的多晶圓探測系統中， 避免在實驗室或生產環境中因佔用空間所導致之相關成本。

B6700產品系列的所有機種皆使用相同的測試機板與操作系統，從而實現使用相容性。支援故障區塊記憶體(BBM)、通用緩衝記憶體(UBM)和資料樣式記憶體(DPM)功能以啟動NAND設備測試。新上市的B6700L和B6700S測試機，計畫在2019年第1季度開始發貨。