單元識別搭配機器學習演算 晶圓檢測診斷更具成本和時間效益
- 蕭菁菁／綜合報導
單元辨別(cell-aware)診斷是一種新穎和有效的偵錯方式，能在電晶體層級進行診斷，繼而識別標準單元內的瑕疵，根據標準故障分析(failure analysis；FA)，單元識別診斷藉由排除晶片內部可疑的缺陷，能有效率地提高診斷結果。
先進的技...
會員登入
會員服務申請/試用
申請專線：
+886-02-87125398。
(週一至週五工作日9:00~18:00)
+886-02-87125398。
(週一至週五工作日9:00~18:00)
關鍵字
