單元識別搭配機器學習演算 晶圓檢測診斷更具成本和時間效益
- 蕭菁菁/綜合報導
單元辨別(cell-aware)診斷是一種新穎和有效的偵錯方式,能在電晶體層級進行診斷,繼而識別標準單元內的瑕疵,根據標準故障分析(failure analysis;FA),單元識別診斷藉由排除晶片內部可疑的缺陷,能有效率地提高診斷結果。
先進的技...
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