德州儀器Texas Instruments 熱門參考設計

參考設計開發助手TI 互動式系統方框圖更智慧、更快速完成您的設計
訊號測量和來源產生
萬用電錶 (DMM) 和 LCR 錶
TI 的整合電路和參考設計可幫助您設計具有4.5至8.5位解析度的低成本,低功耗和高性能萬用電錶產品。
發生器:脈衝、圖形、任意、波形 AWG
TI 的整合電路和參考設計可幫助您建立函數發生器,從而生成具有極低噪聲訊號的高速和寬動態範圍,並解決GSPS訊號生成,相關的高頻,極低相位噪聲時鐘生成和多通道相位同步。
實驗室直流電源、交流電源、電子負載
無論您是設計50 W還是1 kW DC實驗室電源,TI 的整合電路和參考設計都可幫助您建立高功率,精確的AC / DC電源系統。
探針/活性探針
TI 的整合電路和參考設計可幫助您建立有源探頭。
電源量測單元(SMU)
TI 的整合電路和參考設計有助於建立高精度源測量單元,以便對半導體或其他器件進行精確測試和表徵。
特殊應用
電池測試設備
TI 的整合電路和參考設計可幫助您建立高密度電池測試設備,以精確監控和控制電池形成和測試期間的 I / V 配置。不同的架構針對不同功率級別的性能進行提升。
LCD 測試設備
TI 的整合電路和參考設計可幫助您建立高密度,高性能,多通道液晶顯示(LCD)測試設備,最大限度地減少由於參考電壓負載,時鐘和功率引起的通道間差異。
記憶體和半導體測試設備
TI 的整合電路和參考設計可幫助您在晶圓,封裝和電路板級建立高精度測試儀,從而為大量通道提供密集解決方案,同時最大限度地減少通道間差異。
半導體製造業
TI 的整合電路和參考設計有助於建立高精度半導體製造設備,實現精確的工藝和質量控制。
無線通訊測試設備
無線通訊測試設備(WCTE)使用可配置的RF前端來測試無線設備,以確保符合多個標準。TI 的整合電路和參考設計可幫助您建立WCTE訊號鏈,隨著通道數量的增加,該訊號鏈具有高整合度和低功耗。
儀器
資料擷取 (DAQ)
TI 的整合電路和參考設計提供廣泛的系統實現,涵蓋不同的電輸入,輸出,速度和精度,同時最大化系統解析度和帶寬,並在設計數據採集儀器時最大限度地降低噪聲和功耗。
光譜分析
TI 的整合電路和參考設計可幫助您建立創新的光譜學。
秤量
無論您是設計精密天平、臺秤、連續稱重秤還是任何其他重量設備,TI 的整合電路和參考設計都可幫助您建立高性能設計。