











AI 驅動量測新時代:跨越晶片到系統的極限挑戰
在智慧化浪潮席捲全球之際,測試與量測技術正迎來關鍵的轉捩點。本次系列技術研討會以「AI 推升生產力曲線」為核心,串聯台北與新竹打造一場從先進晶片驗證到跨域系統整合的全方位技術盛會。
研討會內容將帶您突擊產業最前線:從 AI如何賦能自動化測試,讓程式開發與數據分析變得更聰明;到 6G通訊與矽光子如何突破物理極限;再到無人機、車用電子與智慧製造的虛實整合驗證。不只聽到專家深入解析 LabVIEW Nigel™ AI 的最新架構,更能親眼見證自動化測試系統如何實現從研發到量產的無縫接軌。
現場匯集了超過二十個實機展示 (Live Demo),讓您深刻體驗從晶片、元件、系統到實驗室的全方位數位轉型。為您提供掌握下世代競爭力的關鍵鑰匙。
席次有限,請依據您的產業需求選擇場次,立即報名,搶先掌握 AI 驅動量測新時代的無限契機!



