Veeco與Allos合力完成Micro LED磊晶技術測試 智慧應用 影音
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Veeco與Allos合力完成Micro LED磊晶技術測試

  • 莊瑞萌綜合報導

美國Veeco與德國Allos Semiconductors雙方已正式完成針對Micro LED量產的矽基氮化鎵(GaN-on-Si)磊晶片(epi-wafer)技術測試,測試結果標準差也達到0.85nm水準。

據Compound Semicon...

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