MRAM製程與測試技術漸趨成熟 智慧應用 影音
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MRAM製程與測試技術漸趨成熟

  • 涂翠珊綜合報導

磁阻式隨機存取記憶體(MRAM)結構簡單,相當容易被嵌入CMOS邏輯電路的後端處理(BEOL)金屬化層。然而在研發人員觀察到自旋移轉轉矩(Spin-Transfer Torque;STT)現象前,MRAM的發展幾乎停滯不前。就在近幾年,STT-MRA...

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