日廠技轉漢民集團旗下漢測 搶進CPC探針卡
- 何致中／台北
台灣半導體供應鏈全速運轉，其中後段的晶圓測試(CP)、成品測試(FT)為重要環節，探針卡(Probe Card)主要為晶圓測試所需介面，除了5G、高效運算(HPC)晶片所需的垂直式探針卡(VPC)外，由於近期各類中階邏輯IC、整合觸控與顯示晶片(TDDI)需求持...
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