功率放大器與前端模組量測概念 下載白皮書抽電影票

功率放大器(PA)是目前無線電中最完整的RF積體電路(RFIC)之一。無論是分離式元件或整合式前端模組(FEM)的零件，PA都會大幅影響無線傳輸器的效能。舉例來說，行動電話的PA附加功率效率(PAE)就會大幅影響行動裝置的電池壽命，而其線性度(linearity)也會影響接收器對已傳輸訊號執行解調的功能。

早期的行動裝置(例如GSM與UMTS)多半採用分離式放大器來執行GSM或UMTS無線電通訊。然而隨著LTE與WLAN技術陸續登場、無線電頻帶的使用率持續上升，市場對整合式 RF前端技術的需求也逐漸增加。目前供應商大多傾向將多項裝置組合成單一元件，其中包含 PA、低雜訊放大器(LNA)、雙工器(diplexers)與切換器。目前許多RF測試工程師也因此必須測試高度整合的FEM，而非分離式PA。雖然FEM的量測項目通常與分離式元件的量測項目相同，但是測試整合的FEM通常需要執行額外的步驟才能設定受測裝置 (DUT)。

工程師在執行RFPA的特性描述時，可使用多種量測與測試技術，以了解該裝置的增益、線性度與效率。就實際狀況來說，描述裝置特性所需的特定量測，必須依據放大器的用途而定。舉例而言，雖然增益與效率之類的指標對所有PA來說都很重要，但是用於無線通訊傳輸的裝置往往需要特定標準量測。錯誤向量幅度(EVM)量測是傳輸調變訊號用PA最重要的指標之一，而鄰近通道洩漏比(ACLR)則是 UMTS或LTEPA最重要的指標之一。

射頻積體電路(RFIC)負責處理高頻電磁波，在半導體技術中有重要作用。隨著半導體技術不斷發展，RFIC的生產製造也向著更高頻率、效能的方向步進。這對RFIC測試提出了越來越高的要求，但同時為了保證效益，也要保持測試成本低廉。NI國家儀器RFIC技術白皮書技術文件，將詳細介紹最重要的一種RFIC-功率放大器(RFPA)的基本測試概念。

NI將透過互動式技術文件與多個教學影片，協助了解RF PA與FEM測試的基本概念。在執行RF PA的效能特性測試時，工程師可善用多種量測與測試技術來了解裝置的增益、線性與效率。關於RFIC技術白皮書詳細，請至NI白皮書下載，下載成功再抽電影票。