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愛德萬測試攜手MultiLane開發可插拔的高速測試儀器

  • 林仁鈞

愛德萬測試(Advantest Corporation)宣布與MultiLane Inc.攜手合作,開發能擴大V93000平台效能的檢測儀器,以更精省的成本,測試次世代數位高速介面。Multilane的儀器,可提供四階脈衝振幅調變(PAM4)訊號高達112Gbps的測試資料速率;而在非歸零(NRZ)資料格式下則可達56Gbps的速率,並具備50GHz頻寬的波型分析(scope analysis)能力。

透過密切合作,發展出高度整合的解決方案,將高頻信號源儘可能地靠近待測元件(DUT),並且大幅強化訊號完整性(signal integrity)和測試準確度。

愛德萬測試與MultiLane結合各自資源,提供真正創新的解決方案,非常適合測試應用於資料中心、人工智慧(AI)等應用的次世代元件。MultiLane販售及支援的新儀器,將進一步提高V93000系統的數位與類比最高頻率,達到發展最新通訊建設所需的關鍵等級。此次聯手,打破傳統自動化測試設備(ATE)解決方案的窠臼,使ATE DUT載板能搭配MultiLane高頻率儀器來使用,以及在ATE上使用如同工作台(bench)的測量與特性分析(characterization)工具。

整合的軟體環境保有工作台儀器原有的彈性與互動性佳的特點,同時又能在量產環境下控制及管理儀器。

愛德萬測試ATE事業群V93000事業部執行副總Juergen Serrer表示:「MultiLane和愛德萬測試的合作,使雙方實力都有所成長與提升,為我們的客戶提供資料中心與AI成長計畫最為關鍵的寬頻112-Gbps PAM4測試能力。」

MultiLane執行長Fadi Daou也指出:「MultiLane很榮幸能把我們的產品,帶給採用愛德萬測試公司半導體測試設備的客戶群;也把V93000強大的功能組,介紹給MultiLane所經營的通訊相關客戶群。隨著我們的主要客戶擴大整合的程度,V93000將提供他們更好的整合性功能,協助他們強化產品測試和加速上市時間。」