愛德萬測試 打造多元半導體解決方案

愛德萬測試 打造多元半導體解決方案

隨著科技日新月異，人們對於儲存裝置、連網裝置需求越來越高，應用的範圍也越來越廣，廠商如何給予使用者安全與穩定的產品是大家所關注的焦點，愛德萬測試在11月28號Advantest Press Conference 愛德萬測試記者會介紹不同種測試產品解決方案，協助廠商解決不同環境的問題。

愛德萬機電整合事業處／新產品事業處副總經理蘇勇鴻表示，公司針對雲端、5G、記憶體、IoT等應用領域都有其配合應用的產品，未來通訊將進入高速傳訊的時代，在記憶體上會碰到大量數據傳輸，產品需要穩定的傳輸與接收，而汽車產業需要進行更多艱困環境的模凝測試，愛德萬測試可協助產業多元且有彈性的測試。

因此，在活動當中愛德萬介紹了多種適用於不同產業地應用測試，如V93000測試平台搭載FVI16浮動電源VI供應，應用於電源供應、量測準確度還是類比／功率效能，並且具備數位回饋技術具備多項特色，可濾除突波雜訊的「智慧連線」，並持續進行監控，以確保可靠而高精準的量測。

愛德萬解釋，FVI16可用於測試汽車以及工業用或消費性行動充電應用的電源與類比IC，包括成長快速的電動車和快充市場。新電源供應模組能提供250瓦高脈衝功率，直流電供應最高可達40瓦，充足的電源供給使機台能在測試新一代元件的同時，兼顧穩定而重複的量測工作。

其次愛德萬T5503HS2測試系統機台為測試新世代記憶體裝置，提供測試解決方案，可測試時脈精確度為±45皮秒(picoseconds)，資料傳輸速度高達8Gbps的記憶體。此多功能測試系統共有16,256通道，用來測試新世代LP-DDR5與DDR5 SDRAM裝置時，可達到半導體業界最高平行測試數量，以及最佳成本效益，同時用戶仍可繼續測試現有的DDR4與LP-DDR4與高頻寬記憶體。此測試機台若選擇配備4.5-GHz高速時脈訊號產生器，便可擴展測試未來8Gbps以上資料傳輸率的記憶體晶片。

另一方面，愛德萬也介紹了一套MPT3000平台，此一平台將能涵蓋PCIe Gen 4裝置的所有測試需求，包括運用MPT3000ES系統進行工程測試、運用MPT3000ENV系統進行可靠性驗證測試(RDT)，以及運用MPT3000HVM系統進行生產測試，毋須耗時等待第三方PCIe Gen 4 SSD應用上市。

此外，藉由提供客戶從設計到製造的完整測試流程，MPT3000解決方案將能大幅簡化過渡到下一世代裝置的進程，而且使用的是與愛德萬測試PCIe Gen 3解決方案相同的測試架構與軟體。此全方位解決方案為SSD製造業者開拓出一條風險最低、速度最快的產品上市途徑。

最後一項則是M4171分類機，M4171將可滿足客戶在元件特性驗證和試產良率攀升階段，對於高功耗IC溫度控制測試的需求，提供行動電子裝置市場最經濟實惠的選擇。

此一新款可移動、Single-site分類功能在工程實驗室中自動裝載和卸載元件，並設定溫控和做好元件分類，不需再仰賴人力手動處理，同時和傳統較大、較貴的量產規模分類機台一樣，具備主動式溫度控制(ATC)功能。客戶隨時隨地都能透過網路遠端操作M4171機台，順暢執行元件分類與溫度控制作業。採用此新款分類機不僅可精簡操作人力、節省實驗室成本，更能協助身處不同地點的工程團隊，大幅提升系統利用率。