台灣創新技術博覽會 北京BCEIA分析測試展覽會報導

2019台灣創新技術博覽會「傑出發明館展區」由智慧財產局規劃，展出107年國家發明創作獎共41件作品，向世界呈現我國優秀發明人豐沛創新研發能力。其中包括台灣超微光學於107年以發明專利(台灣公告號：I510774、大陸公告號：CN106415222 B、美國公告號Patent No.：US10,145,739 B2)「光譜儀、光譜儀的波導片的製造方法及其結構」參與國家發明創作獎，由465件競爭對手中脫穎而出榮獲最高榮譽之「發明獎」金獎。

2019年第十八屆北京分析測試學術報告會暨展覽會(BCEIA 2019)10月23至26日在北京國家會議中心舉行。台灣超微光學也借助BCEIA平台提供充分探討交流的契機，以促進光譜儀應用產業的持續發展。今年展示全新推出OW高解析光譜儀，解析度(Resolution)在波長850nm和940nm實測可達到0.1 nm以下，特別適用於VCSEL(Vertical-Cavity Surface-Emitting Laser，垂直共振腔面射型雷射)晶圓測試、3D感測技術、LD雷射量測、LIBS(Laser-Induced Breakdown Spectroscopy，雷射誘導電漿光譜儀)、膜厚量測...等相關應用，規格超越同級光譜儀，在市場上有著極高的詢問度。

此外今年推出的PH-NIR口袋鷹光譜儀/RS紅雀系列光譜儀，也深受近紅外市場矚目，台灣超微光學開發出比以往更小、更有價格競爭力的光譜儀，應用研發專利「矽晶圓波導」(於2018年榮獲國家發明創新獎「金獎」殊榮)，將製造精度提高20倍，生產良率從50%提升至95%，成本降低至十分之一。藉由波導或自由曲面繞射光柵作為光學架構，可以確保光譜儀提供穩定的量測性能。微型模組的設計提供了系統整合彈性，同時滿足近紅外光譜市場中強調輕巧方便、手持量測的需求。