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愛德萬測試隆重發表2款最新雲端解決方案

  • 陳其璐/新竹

愛德萬測試Advantest Corporation與PDF Solutions Inc攜手合作,發表兩款創新雲端軟體解決方案,一是愛德萬測試V93000動態參數測試(Dynamic Parametric Test;DPT)系統,由PDF Exensio DPT提供技術支援;二是邊緣高效能運算(HPC)系統,兩者皆屬於最新發布之愛德萬測試雲端解決方案 (Advantest Cloud Solutions;ACS)。該方案是提供以雲端為基礎的產品與服務之生態系,而其核心正是專注於資料與分析、由PDF Exensio提供技術支援的平台「愛德萬測試雲端」,也是由愛德萬測試與PDF Solutions共同開發。

借重PDF Solutions開發的核心科技,就能運用客戶工作流程中產生的資料,反過來對半導體從設計認證到製造、再到晶片組和系統級測試的各段流程提供回饋,客戶便能從供應鏈、自家設備和測試資料汲取更多有價值的資料,並運用愛德萬測試雲端解決方案的演算法、整合性工作流程與方法,縮短達成高良率所需的時間、提高整體設備效率。

不論是先進製成節點、電子微縮(electrical scaling)、2.5D與3D封裝等半導體技術突破,還是關於系統方面的新焦點,對於業者而言都是挑戰,唯有仰賴由軟體引導的全面性解決方案才能克服。若可以將遍布於傳統半導體價值鏈中的資料孤島整合起來,能大幅提升產品品質、製造良率及成本效益。

由PDF Exensio DPT技術支援的愛德萬測試V93000動態參數測試系統,是愛德萬測試與PDF Solutions攜手開發,為V93000 SMU8參數測試平台新增以規則為本的智慧測試流程。這項科技,測試流程能在幾毫秒內即時自動優化,以擴大裸晶測試範圍、改善異常量測的特徵(characterization)、糾正設備問題和簡化額外資訊收集,支援根本原因驗證(root-cause identification)和下游分析(down-stream analytics)。

最新的先進高速邊緣運算產品能執行複雜的測試負載,延遲僅毫秒之差,且能提供給早期採用者使用。有了為機器學習、解調或其他高效能負載而預先設定的容器,這套系統使得在半導體測試中執行機器學習變得更容易。除了方便客戶透過雲端追蹤、管理和保管所有容器外,也讓客戶能藉由內建有順向/逆向資料饋送之應用程式介面(API),來隨選存取先前插入的資料。客戶可以在生產過程中部署機器學習模型和演算法、執行現地測試流程優化,亦能在保障資料安全的條件下遠端管理高敏感度IP。

美國愛德萬測試公司總裁暨執行長Doug Lefever表示,愛德萬測試不僅提供最先進的測試技術,為客戶創造價值,亦持續開創新的企業實踐、拓展我們的產品組合,推出迅速回應市場需求且有助客戶節省成本的雲端服務。我們將這樣的創新視為愛德萬測試宏觀設計(Grand Design)目標的一環,進一步推升整體半導體價值鏈。