產品創新成功之鑰：NI硬體迴路(HIL)，優化測試極致產品創新

隨著​技術​變得​日益​複雜，​嵌入式​軟體​的​應用​也​日益​增多。​能否​在​生產​前​發現​軟體​問題，​對於​產品​和​公司​的​成功​而言​至​為​關鍵。​硬體​在​環​(HIL)​是​一種​嚴格​的​嵌入式​軟體​測試​方法。​

瞭解​HIL​測試​如何​為​貴​組織​帶來​優勢—HIL​測試​不僅​可以​作為​一種​測試​方法，​讓​您​在​產品​發布​上市​時​胸有成竹，​又​可以​作為​一種​工具，​幫助​設計​人員​快速​反覆運算​想法，​最大​化​其​創新​能力。​

本技術白皮書將​介紹​HIL​系統​組​件，​以及​NI​特有的​平台​如何​為​HIL​測試​台​帶來​獨特​的​優勢。借助​NI​解決​方案，​系統所​有權將​不再​由​測試供應商​掌握，​而是​歸​您​所有，​因此​您​可以​在​通用測試架構​的​整個驗證​和確認過程​中，​最大限度​地​提高​HIL​系統​的可複用​性。關於白皮書內容，請至NI線上白皮書查詢。