愛德萬於SEMICONChina發表5G最新IC測試解決方案

半導體測試設備領導廠商愛德萬測試將於3月20~22日，在上海新國際博覽中心(SNIEC)所舉行的SEMICON China，為中國大陸市場提供十餘種最新、最先進的測試系統和服務。

產品展示

在N4廳的#4431攤位內 ，愛德萬測試將透過產品現場示範和展出，提供最先進的測試解決方案。包括V93000可擴充式平台，採用最新IC測試解決方案和服務來支援人工智慧技術；FVI16 浮動電源 VI source，則可延伸V93000平台的功能，以涵蓋更廣的測試範圍，包括汽車、工業和電源管理IC (PMIC) 應用的先進IC等。

供實驗室環境使用的B6700ES燒入式記憶體測試系統，搭配生產測試系統使用之burn-in boards；高度彈性工程測試機T5830ES， 其Tester-per-Site的設計，可針對各種攜帶式電子產品所使用的快閃記憶體進行測試。EVA100量測系統具有最新HVI (高壓VI源和量測) 模組，可擴充平台的服務範圍，涵蓋大量消費性電子產品用的高功率IC。

另外，供系統級測試用的T2000 平台、以及MMXHE和 RECT550EX模組，可讓T2000系統更有效地測試油電混合、電動車動力傳動系統之中使用的設備。愛德萬測試同時展示並讓參加者可直接觀察T2000測試平台的應用方式，藉此提高更多類型的車用電子產品，諸如感應、控制、處理、電力相關之設備和模組的效能與可靠性。

此外，還以數位化的展示，用於量測IC 封膠厚度和IC 封裝印刷電路板佈線品質之TS9000 系列太赫茲分析系統；量測下一代光罩關鍵尺寸(CD)的E3650掃描電子顯微鏡(SEM)；檢查光罩缺陷用的E5610 SEM；1X奈米技術節點用的束微影術系統F7000；顯示器驅動IC(DDI)用的T6391測試系統；測試介面則有300mm NAND探針測試卡， 和用於V93000 IoT ICs 之測試解決方案；創新的CX1000P CloudTesting機台；滿足成本效益、隨選雲端式的測試解決方案，以及愛德萬測試一系列的售後服務，協助提高使用AI技術的整體設備效率(OEE)。

愛德萬測試的展覽將包括2019年2月從Astronics 公司獲得的半導體系統級測試事業的介紹。

贊助與發表

除了身為2019年中國大陸半導體技術大會(CSTIC)的贊助商外，愛德萬測試發言人也將於兩場專題研討會上發表演講。3月18日於5D 和5E室所舉行的「計量、可靠度和測試研討會」，Anil Bhalla將主講「車用半導體測試策略的關鍵考量 (Key Considerations for Automotive Semiconductor Test Strategy)」。

另外在3月19日於5B 和 5C室中所進行的「封裝與組裝研討會」， Yang Shang博士將發表「透過遞迴電路建模，分析BEOL高解析度時域反射 (High-Resolution Time-Domain Reflectometry Analysis in BEOL by Recursive Circuit Modeling)」。

3月19日，愛德萬測試也將參加位於5H室，由Guangyu Yang針對「ATE對IC產業和其發展趨勢的重要性」所舉辦的勞動力發展培訓課程 - 「高級晶圓級封裝，系統級封裝(SiP)和測試」。

此外，3月21日在上海長榮桂冠酒店所舉行的人工智慧與半導體科技論壇當中，愛德萬測試Zhang Ke將會簡報有關使用人工智慧設備在雲端及邊緣運算的測試解決方案。