愛德萬測試推出T5503HS2高速記憶體晶片測試系統

半導體測試設備領導供應商愛德萬測試(Advantest Corporation)正式推出T5503HS2測試系統，專為現役最高速記憶體裝置，以及新世代超高速DRAM產品，提供業界最富成效的測試解決方案。在全球記憶體需求處於「超級循環」高速成長之際，其具備的靈活性，有助擴展T5503系列產品的測試能力。

此記憶體超級循環拜行動電子裝置與伺服器終端市場成長之賜。根據市調機構IHS Markit， 自2009年至今，Mobile DRAM於整體DRAM產業的市佔率已成長5倍以上。IHS Markit更預測，至2021年，來自行動電子、資料中心、汽車、博奕遊戲與顯示卡等各種資料處理應用所需要的DRAM總容量，將達到1,200億個Gbit記憶體。為了滿足此蓬勃成長的龐大需求，晶片製造商利用先進SDRAM技術，一舉開發DDR5與LP-DDR5記憶體，其資料傳輸率高達6.4Gbps。

愛德萬T5503HS2測試系統旨在兼顧新世代記憶體與既有裝置，提供測試解決方案，可測試時脈精確度為±45皮秒(picoseconds)，資料傳輸速度高達8Gbps的記憶體。此多功能測試系統共有16,256通道，用來測試新世代LP-DDR5與DDR5 SDRAM裝置時，可達到半導體業界最高平行測試數量，以及最佳成本效益，同時用戶仍可繼續測試現有的DDR4與LP-DDR4與高頻寬記憶體。此測試機台若選擇配備4.5-GHz高速時脈訊號產生器，便可擴展測試未來8Gbps以上資料傳輸率的記憶體晶片。

T5503HS2內建功能強大，而且是唯一用於支援新世代LP-DDR5、DDR5等高速記憶體裝置量產的高速測試平台。舉例來說，此測試機台可自動辨識與調整DQS-DQ差動時脈差異訊號，以確保即時追蹤取得更多時脈餘裕。此外，T5503HS2穩固的全新演算圖樣產生器(algorithmic pattern generator；ALPG)，可對先進記憶體裝置進行快速、高品質的功能評估。T5503HS2亦具備全新可編程電源供應器，反應速度較先前版本快4倍，大幅減少壓降的衝擊。

目前採用T5503測試機的用戶可選擇升級至全新T5503HS2測試系統，使生產設備在符合經濟效益之下，無縫接軌新世代記憶體裝置。愛德萬測試執行副總裁Masuhiro Yamada表示：「愛德萬T5503HS2測試系統針對新世代記憶體晶片全速測試，展現業界最佳效能與精準度。此測試系統無與倫比的可擴充性與生產力，使其成為測試LP-DDR5、DDR5裝置的最迅速、最準確、最符合成本效益的系統。」