盛群全新推出32-bit觸控MCU 提供專業技術服務與解決方案

HOLTEK 新推出 32-bit Arm Cortex -M0+ 觸控微控制器。盛群半導體

觸控按鍵產品應用推陳出新，終端產品朝向智能化趨勢發展，市場邁入高速成長階段，盛群半導體(HOLTEK)全新推出資源更豐富、效能更高的5V寬電壓Arm Cortex -M0+ Touch微控制器HT32F542xx系列，型號為HT32F54231、HT32F54241、HT32F54243、HT32F54253，時脈最高可達60MHz，提供最多28個觸控鍵，應用上適用於智慧家電、數位電子鎖、工業控制等市場。

此系列MCU除了更穩定及可靠的電容式觸控引擎核心硬體外，同時具備USART/UART/SPI/I2C等標準通訊介面，讓設計者易於連接各類感測器、無線模組等來擴展產品功能，進而開發出各類智慧型家用電器及物聯網終端設備。

觸控按鍵感應依原理大致可區分為：電阻式、電感式、電容式、紅外線式、表面聲波式等，目前市場主要以電容式為主。終端應用產品要實現觸控功能並不難，但要做到穩定及符合EMC規範，則是技術上的挑戰。由於各家IC公司觸控產品的設計技術及工程服務水平不一，開發者在觸控按鍵應用的開發初期，可能沒有建立正確的測試程序，導致一些潛在效能問題未能被檢驗出來，銷售出去的成品在終端客戶使用一段時間後，往往會出現不少售後客訴，尤其是AC供電或是各種應用環境下遭遇的問題諸如電源高頻干擾、潮溼、水氣等，都極易造成觸控按鍵的誤動作或失效現象，最終導致品牌廠商不小的困擾及商譽損失。

影響觸控穩定性的原因及完善的測試方法：

常見干擾源

常見干擾：電壓波動、溫度／濕度變化、電磁干擾(RF天線、對講機等)、電源干擾(電機啟動、日光燈啟動)等，都有可能引起觸控不穩定。

完善的測試

以下測試方法基本可以營造出一般電子設備的使用環境，只要通過這些項目的測試，設計出來的觸控產品都是相對穩定可靠的。

(一) 功能測試：操作觸控按鍵的過程，同時將工作電壓從高調到低，再從低調到高反覆做測試。

(二) 潮濕環境測試：利用水蒸氣讓待測的觸控面板上結滿露水，或者把觸控面板靠近空調出風口，濕度越高電容值越高，相反地，溼度越低則電容值越低。

(三) 溫度測試：用烘箱或熱風加熱，放入冰箱或冰櫃製冷測試，設備充足的情況下還可以用專業的溫度箱測試。

(四) 電源干擾測試：測試EFT脈衝群抗擾度，標準IEC61000-4-4、GB/T 17626.4，測試射頻場感應的傳導騷擾抗擾度：標準IEC61000-4-6、GB/T 17626.6。

(五) 空間輻射測試：測試射頻電磁場輻射抗擾度試驗，標準IEC 61000-4-3、GB/T 17626.3，測試場強在3 - 10V/m之間。

(六) ESD測試：標準IEC61000-4-2、GB/T 17626.6。

盛群半導體(HOLTEK)自2006年開始研發設計觸控按鍵IC，基於提供客戶全面且專業的技術服務，於2008年成立「優方科技」，雙方共同致力於觸控感應解決方案的研究與發展，迄今積累十多年經驗，每年協助客戶量產數量多達2億台。2022年全新推出32-bit HT32F542xx系列的觸控MCU，期望未來在觸控應用市場中，提供客戶從快速導入開發設計、終至成品量產出貨的專業技術服務及完整解決方案。