利用機器學習驗證晶片 將元件最佳化 智慧應用 影音
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利用機器學習驗證晶片 將元件最佳化

  • 劉慧蘭綜合報導

各產業都在研究如何應用資料分析、資料探勘(data mining)和機器學習技術,其中又以半導體設計和製造領域最明顯。根據Semiconductor Engineering報導,機器學習、深度學習和人工智慧(AI)的重點是了解元件對真實事件和模擬的反應,以便將元件最佳化...

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