愛德萬測試攜手MultiLane開發可插拔的高速測試儀器

愛德萬測試(Advantest Corporation)宣布與MultiLane Inc.攜手合作，開發能擴大V93000平台效能的檢測儀器，以更精省的成本，測試次世代數位高速介面。Multilane的儀器，可提供四階脈衝振幅調變(PAM4)訊號高達112Gbps的測試資料速率；而在非歸零(NRZ)資料格式下則可達56Gbps的速率，並具備50GHz頻寬的波型分析(scope analysis)能力。

透過密切合作，發展出高度整合的解決方案，將高頻信號源儘可能地靠近待測元件(DUT)，並且大幅強化訊號完整性(signal integrity)和測試準確度。

愛德萬測試與MultiLane結合各自資源，提供真正創新的解決方案，非常適合測試應用於資料中心、人工智慧(AI)等應用的次世代元件。MultiLane販售及支援的新儀器，將進一步提高V93000系統的數位與類比最高頻率，達到發展最新通訊建設所需的關鍵等級。此次聯手，打破傳統自動化測試設備(ATE)解決方案的窠臼，使ATE DUT載板能搭配MultiLane高頻率儀器來使用，以及在ATE上使用如同工作台(bench)的測量與特性分析(characterization)工具。

整合的軟體環境保有工作台儀器原有的彈性與互動性佳的特點，同時又能在量產環境下控制及管理儀器。

愛德萬測試ATE事業群V93000事業部執行副總Juergen Serrer表示：「MultiLane和愛德萬測試的合作，使雙方實力都有所成長與提升，為我們的客戶提供資料中心與AI成長計畫最為關鍵的寬頻112-Gbps PAM4測試能力。」

MultiLane執行長Fadi Daou也指出：「MultiLane很榮幸能把我們的產品，帶給採用愛德萬測試公司半導體測試設備的客戶群；也把V93000強大的功能組，介紹給MultiLane所經營的通訊相關客戶群。隨著我們的主要客戶擴大整合的程度，V93000將提供他們更好的整合性功能，協助他們強化產品測試和加速上市時間。」