賦能高階測試 加速產品上市

在當今強調電子測試與測量產業快速迭代的時代，全球研發團隊對於精度、速度與整合度的需求正呈現爆炸性成長。隨之而來的，是系統開發面臨的嚴峻考驗：如何在確保極致效能與長期可靠性的同時，滿足複雜軟硬體協同開發的大挑戰？傳統的晶片供應模式往往需要在開發週期、系統複雜度與系統成本之間進行艱難的權衡。

為了協助工程師克服這些設計障礙，本白皮書聚焦於ADI旗下儀器儀錶系統解決方案事業部（ISS）所推出的六款經過嚴格工程驗證的儀器儀錶系統級解決方案。不同於傳統設計依賴繁瑣的分立元件與高功耗機制，ADI 憑藉深厚的技術底蘊，為精密測量與高速採集兩大技術賽道帶來了全新的設計彈性：

• 精密阻抗分析模組（ADMX2001）：結合 DDS 正弦激勵與雙路 ADC 同步取樣，實現「模組層級體積、桌上型電腦精度」，完美滿足 LCR 與電池EIS測試。
• 超低失真波形產生器（ADMX1001/1002）：基於20位元DAC與專利DPD演算法，將1kHz下THD推至-130dBc，達到高階桌上型儀器水準。
• 低時延開發套件（CN0584/5 LLDK）：實現4進4出全通道同步、端對端類比迴路延遲<250"ns" ，開箱即可建構即時控制系統。
• 四通道數位控制源表（ADMX3001）：實現±100V/±1A四象限同步運行與快速回應，單通道成本與空間遠優於傳統PXI模組。
• 10GSPS直流耦合數位化儀（ADMX6001）：採用雙路徑異構ADC架構，一次性解決寬頻高速取樣與直流高精度測量的矛盾。
• 6-18GHz FR3射頻收發前端（ADMX7103）：提供完整的雙向射頻訊號鏈，核心EVM指標優於-50dB，完美相容5G/6G與雷達通訊驗證。

本白皮書將帶領讀者深入剖析ADI從「硬體模組+參考設計+軟體堆疊+演算法IP」的一站式交付優勢，展示如何透過彈性的三級合作模式（從標準模組採購、參考設計授權到聯合客製開發），協助客戶大幅縮短研發週期、降低開發門檻。無論您是測試測量設備廠商、ATE系統整合商，還是致力於開發高階科學儀器的系統架構者，ADI的高性能解決方案都將為您的設計帶來顯著的效率提升與效能優化。