先進節點更需要高精度模擬和驗證
- 劉慧蘭／綜合報導
半導體設計人員習慣使用測試晶片來驗證結構、儲存單元、較大記憶體區塊、高精度類比電路和高速I/O，藉此診斷早期問題，然而隨著先進節點的光罩工具和晶圓等技術成本不斷增加、測試晶片的複雜性提高，業界對於測試晶片是否過度使用，或應該增加測試晶片的使用出現意見分歧。
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