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製造業調查
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先進節點更需要高精度模擬和驗證

  • 劉慧蘭

半導體設計人員習慣使用測試晶片來驗證結構、儲存單元、較大記憶體區塊、高精度類比電路和高速I/O,藉此診斷早期問題,然而隨著先進節點的光罩工具和晶圓等技術成本不...

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