EDA業者利用大量數據改善晶片設計
- 陳端武／綜合報導
幾乎IC工具流程的每一步都會產生一些數據。某些步驟會產生驚人的大量數據，但並非所有數據都具有相同價值。據Semiconductor engineering、AnandTech報導，邏輯驗證流程會對測試平台程式碼涵蓋範圍內的數據進行詳盡分析，以顯示RTL版本設計的...
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