南茂TDDI晶圓測試稼動率趨滿載 NAND封測4Q回穩 智慧應用 影音
Microchip
ST Microsite

南茂TDDI晶圓測試稼動率趨滿載 NAND封測4Q回穩

  • 何致中台北

驅動IC暨記憶體封測廠南茂董事長鄭世杰指出,驅動IC封測相關業務成長動能略優於記憶體產品,儘管下半年仍有不確定性,但第3季兩大領域都將季成長,特別是整合觸控與顯示(TDDI)晶片的晶圓測試稼動率可望重返滿載水準。

鄭世杰表示,從驅動IC...

會員登入


【範例:user@company.com】

忘記密碼 | 重寄啟用信
記住帳號密碼
★ 若您是第一次使用會員資料庫,請先點選
【帳號啟用】

會員服務申請/試用

申請專線:
+886-02-87125398。
(週一至週五工作日9:00~18:00)
會員信箱:
member@digitimes.com
(一個工作日內將回覆您的來信)