降低SiC缺陷密度 格棋盼跳脫尺寸競賽 智慧應用 影音
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降低SiC缺陷密度 格棋盼跳脫尺寸競賽

  • 王嘉瑜台北

隨著電動車(EV)、高頻通訊與衛星應用的擴張,8吋SiC晶圓成為新一代功率元件的材料核心。然而,台灣本土SiC基板供應商格棋指出,「尺寸放大」本身並非技術終點,更嚴峻的挑戰在於降低晶體缺陷密度。展望全球第三類半導體供應鏈重組趨勢,格...

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