半導體測試規格提升 台系探針卡蓄勢待發
- 康瓊之／綜合報導
隨著電子產品走向輕薄短小、節能省電、高速運算等特性，使得測試的複雜度提高，測試時間愈長，測試板增加亦帶動單價提升。產業面而言，5G、AIoT、HPC、自駕車等各式應用發酵，對於半導體測試規格要求提高，進而帶動探針卡需求成長。探針卡...
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