靠AI突破失效分析瓶頸 專訪台灣TESCAN插旗先進封裝 智慧應用 影音
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Vicor
【華碩】領航主權 AI:從超算實績看次世代 AI 加速架構佈局

靠AI突破失效分析瓶頸 專訪台灣TESCAN插旗先進封裝

  • 王嘉瑜台北

來自捷克的電子顯微鏡設備商TESCAN近年積極轉型,布局先進封裝領域所需的半導體失效分析(Failure Analysis)檢測技術。隨著台灣在晶圓代工龍頭領導下,成為全球先進封裝技術研發重鎮,TESCAN也瞄準亞太區半導體客戶量測需求,決定於2025年進...

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