科技1分鐘：系統級測試（SLT）
- 何致中
隨著AI晶片、高效運算（HPC）與車用電子產品的複雜度不斷提升，傳統封測流程中的晶圓測試（CP）與成品測試（FT），已難以全面驗證系統整體效能與可靠性。系統級測試（System-Level Test；SLT）因而逐漸...
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