科技1分鐘：半導體失效分析（FA）
- 許經儀
半導體領域中，失效分析（Failure Analysis；FA）是針對半導體元件的一系列的檢測流程，目的在於識別缺陷並找出失效的原因，藉此提高設計、製作過程與測試準確度。據芬蘭Measurlabs說明，大致可分為兩類失效，一是參數失效（pa...
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