新興半導體測試技術研討會—從研發到產線測試的完整解決方案

根據經濟部統計，2011年半導體產值已超過1.5兆台幣，加上新製程及IC技術不斷推進，半導體廠商每年需投入高達10%的總體營收在設備上，伴隨著2012年近期景氣愈趨明朗，產線滿載的情形下，「產品測試」端的測試速度及測試品質亦相對被要求，這些無疑都是半導體廠商最重要的任務。

若將產品的測試流程放大來看， R&D進行EVT、DVT，進而再交由產線進行PVT，若R&D和產線使用的測試設備不同，除了增加實質的測試成本，也增加了雙方溝通的時間成本；一般統計若R&D與測試端採用相同的測試設備，將可縮減一半的資金成本，且整體時間支出也將縮短2.5倍以上。

為了幫助半導體廠商降低測試成本與時間，美商國家儀器(National Instruments, NI)將於本研討會介紹如何將PXI平台應用在R&D的研發驗證與產線的大量生產測試系統，讓R&D端與產線端可以使用相同的測試系統，以大幅減少測試成本，並藉由PXI平台同步測試的優勢來提升測試速度，同時分享如何用PXI平台進行多種無線通訊協定的混合測試。

此次研討會，將於2012年4月12日於新竹科技生活館舉辦，特邀在半導體領域具有多年DC、混合訊號及RF量測經驗的國外專家Heath Noxon與Joey Tun提供專業的現場諮詢與技術分享。同時全天精彩豐富的技術主題，由R&D驗證常見的混合訊號測試延伸至無線通訊測試，再教導工程師如何快速轉移至產線進行大量部署。除此之外，現場呈現近10組產業實際應用Demo，完整體驗由DC、混訊至RF測試等多種實務應用。歡迎各界相關專業人士一同與會，和NI一起體驗PXI所帶來的超速測試和一機到底的量測新風潮。

活動報名網址：http://ni.ehosting.com.tw/events/2012_Semi/edm-digitimes/index.html