CGD在APEC電子展其技術論文獲得驗證

Cambridge GaN Devices（CGD）是一家無晶圓廠無塵技術半導體公司，使用氮化鎵 （GaN）開發出多款高能效功率裝置，協助打造出更為環保的電子產品；CGD宣布，由頂尖學術研究機構維吉尼亞理工大學進行的獨立第三方研究表明，CGD的ICeGaN氮化鎵技術較其他氮化鎵平台更具可靠性及堅固性。

在由維吉尼亞理工大學的研究人員與 CGD創新與研究總監Daniel Popa共同提出名為《A GaN HEMT with Exceptional Gate Over-Voltage Robustness》（具有絕佳柵極過電壓穩健性的 GaN HEMT）的論文中，以實驗證據證表明ICeGaN HEMT在智慧保護電路的支援下，顯示出超過70V的超高過電壓裕度，這與最先進的傳統矽裝置相當，甚至可能更高。

Daniel Popa , CGD創新與研究總監表示 : 「突發的高驅動電壓是在設計GaN HEMT裝置的柵極可靠性和驅動器時所考慮的一大問題。最先進的GaN HEMT能夠承受25V左右的電壓，這在轉換器等應用裝置裡可能是在柵極電壓過衝的範圍內，而造成裝置故障。在出現ICeGaN之前，只有最先進的碳化矽（SiC）和超接面裝置才能達到70V或更高的崩潰電壓值。」

ICeGaN HEMTS自有一套獨特能力，共同提高了裝置的可靠性，遠優於當前最先進的GaN競品，同時接近最先進的矽基裝置堅固性。除了經維吉尼亞理工大學研究證實，完全整合之GaN智慧電路所大幅提升的動態柵極崩潰能力，ICeGaN技術還具有更高的3V電壓閾值、更高的0-20V電壓範圍，以及在較低溫度下更強大的柵極電壓箝位作用。

智慧 ICeGaN 電路另加入新式米勒鉗位 （Miller Clamp) ）電路，確保免受高dV/dt和dI/dt事件的影響，無需負柵極電壓即可關閉 （及保持關閉）HEMT，這樣又減少對動態 Ron 應力的暴露。

Andrea Bricconi , CGD商務長表示 :「易用性與可靠性是CGD的ICeGaN技術的兩大優點。我們的設計將使用晶片氮化鎵GaN製造的智慧保護電路與HEMT進行整合，方能實現這兩大優點，以與 MOSFET 相同的方式來驅動裝置，無需使用特殊的柵極驅動器、複雜且有損耗的驅動電路、負電壓電源要求或額外的箝位零件，且能在惡劣及具有挑戰性的應用環境中使用。」