愛德萬LCD驅動IC測試系統T6373 大幅增加產出 提升成本效益最佳測試解決方案

愛德萬LCD驅動IC測試系統T6373。

ATE領導廠商愛德萬測試(Advantest)針對LCD驅動IC的測試，於2001年推出T6371測試系統，2004年推出T6372，深受業界好評，至今已累積逾500台銷售實績。2008年，愛德萬測試進一步推出更具生產成本效益的LCD驅動IC測試系統T6373，更是獲得市場熱烈迴響。

愛德萬測試表示，在LCD面板出貨朝向大尺寸化、高解析度化的趨勢之下，有助於提升驅動IC用量；然而面板廠為了進一步縮減成本，亦朝向驅動IC多通道化發展，使得IC用量減少。因此在成本效益考量之下，高性能LCD驅動IC測試機台就更具關鍵性。愛德萬的T6373的測試速度從250Mbps至2.5Gbps，可同時測試更多顆IC，搭配M7521A Handler，可使良率提升、縮短上下料時間，增加產出，提供LCD驅動IC最佳測試解決方案。

T6373有多達512 channels的高速I/O數位信號，和3,072 channels的LCD pin測試資源，提供同測功能可一次多達32個devices，使產能增加兩倍。T6373所有I/O channels可達875mbps的測試速度，另外，新增的HSIF高速 I/O channels更可達到2.5Gbps的高速數位測試能力，可提供mini-LVDS、PPmL、Aipi和mipi(Mobile Industry Processor Interface)等高速傳輸標準的測試，使所有的LCD驅動IC的功能測試，都可以在同一台測試機上完成。

T6373的每一個 LCD channel，都有一個高精確度的量測裝置，其精確度比舊型機台增加了1.5倍。它為範圍廣泛的驅動IC產品，從大規模生產的產品，如消費性電子產品8-bit(512灰階)和10-bit(1024灰階)驅動IC，到12-bit(4,096灰階)驅動IC提供了低成本、高精準度的測試。

此外，Probe Card及測試程式與上一代的T6372/L共用。由於T6373是以T6372/L測試機所延伸的新技術，更加滿足開發及量產成本效益考量。它不僅保留原有軟體環境和共用性，還完全與T6300平台相容，使客戶能夠使用其現有的軟體環境在T6373上開發新產品；或者使用T6372現有的測試程式及Probe Card，在T6373上製造量產。