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USB 3.0標準撼動產業發展態勢

  • 李佳玲

相容型 USB 3.0 向下展頻 SSC profile。
相容型 USB 3.0 向下展頻 SSC profile。

安捷倫科技USB產品經理 Jim Choate將在本文中,針對USB 3.0標準會給市場帶來哪些變化,以及會給工程實驗室帶來哪些挑戰,發表自己的看法。文中將介紹數位工程師將會用到的新技能,並且探討展頻時計方面可能存在的相符性問題,同時還解釋了高速傳輸速率對於發射器、接收器與纜線系統的測試有何影響。最後,本文還探討了數位標準的重要性,以及量測專業技術在執行互通性測試時所扮演的重要角色。

USB 技術已廣為應用於許多領域。Intel的調查結果顯示,全球 USB 產品出貨量已經超過 60 億個,幾乎到了全世界每人都有一個的普及度。不僅如此,性能更先進的 USB 3.0 技術可能進一步取代其他介面,加速擴大其市場佔有率。

USB 3.0 系統可同時管理所有 USB 資料速率。
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USB 3.0 系統可同時管理所有 USB 資料速率。

新的 USB 3.0 標準(SuperSpeed USB)訂定了比USB 2.0 高出10 倍的資料傳輸技術。傳輸速度的提高,預料將引發新一波的消費性電子產品熱潮,對於渴望將影片傳送到智慧型手機上的消費者而言是一大福音。消費者不斷升高的需求驅動了此超高速標準的發展,從一般使用者的角度來看,這是重大的技術演進。

新標準全面撼動資料傳輸發展

然而,演進並不代表墨守成規。USB 3.0 介面支援高達 5 Gb/s 的資料速率及超過 200 MB/s 的資料容量,這項新標準正全面撼動資料傳輸發展。由於它的速度比 eSATA 和 FireWire還快,很可能會使得這兩種介面遭到淘汰。

PCI Express 介面雖是內部匯流排,您也可透過轉接卡來使用這項技術,自如地在 PC 之間傳輸資料。而 USB 3.0 進一步強化了效能,讓您無需使用轉接卡,便可用可與 PCI Express 相媲美的高輸送量來傳輸資料。不過,這並不代表 USB 3.0 會取代 PCI Express 技術的地位 – 目前出貨的 USB 3.0 主機仍然使用 PCI Express 卡,而是凸顯出支援高傳輸速率的 USB 3.0,可為工程師提供適用於各種應用的優異效能。

同時,USB 3.0 標準也改變了工程實驗室的現況。USB 3.0 的架構與 USB 2.0 截然不同,為提升速度,它內含一個實體層,這一點與 PCI Express 技術極為相似。如此一來,專精USB 2.0 技術測試與除錯的專業工程師將需要學習新的技能。

此外,使用高速 USB 3.0技術時,數位工程師必須處理微波效應,但他們在這方面毫無經驗。數位設計人員還需解決信號路徑的路由與阻抗控制問題,這些都是 USB 3.0設計的關鍵要求。在設計接收器時,由於需部署複雜的 PLL(鎖相迴路)和主動式接收器等化功能,因此設計難度提高了十倍。

USB 3.0 產品都必須包含展頻時計

設計人員面對的最大改變之一是,所有 USB 3.0 產品都必須包含展頻時計(SSC)。SSC 主要用來消除或降低 EMI(電磁干擾)。對晶片設計者而言,他們很難用低成本設計來部署可有效控制的 SSC 調變技術。 

有些主機板並未正確地部署中心展頻 SSC 時計,違反了 USB 3.0 規格要求。中心展頻波形profile以標稱頻率為中心,進行等量的上下調變,例如 +2500/-2500 ppm。如果系統未妥適地部署中心展頻 SSC,則大多數 USB 3.0 元件就無法與之相容。當消費者購買了主機外接插卡,並將其插入系統時計不一致的系統中,將會很失望地發現兩者不相容。
  
元件廠商已經找到解決這個問題的辦法,例如關閉 SSC。其實,真正一勞永逸的方法是,系統廠商應確保自身產品符合 PCI Express 和 USB 3.0 的 SSC 規格要求。為達成此一目標,PCI Express 廠商聯盟和 USB-IF 相容性小組必須共同克服這個難題。

USB 3.0標準要求回溯相容性

另一方面,USB 3.0 標準要求向後相容性,進ㄧ 步提高了符合相容性標準的元件設計的難度。隨著 USB 標準不斷演進,其資料速率已經由 1.5 Mb/s、12 Mb/s(USB 1.1),躍升到 480 Mb/s(USB 2.0),現在更提高到 5 Gb/s(USB 3.0)。由於每個不同版本的 USB 標準,其相容性測試規格都不相同,而不同的資料速率與信號位準共存,更大幅提高了元件的複雜度和測試要求。不過,向後相容的規格,使得消費者能夠彈性地混合搭配不同速度和傳輸容量的週邊配備。這種靈活性也是 USB 的主要優勢之一。

USB 3.0 標準將資料速率提升了 10 倍,使得發射器、接收器和纜線系統的測試面臨新的挑戰。為了測試 SuperSpeed發射器相容性和通道效應,工程師需使用高頻寬示波器和相容性碼型來量測發射波形。由於 USB 3.0 支援超長的通道拓撲,因此工程師需透過長通道對發射器和接收器進行相容性測試。也就是說,工程師須使用3 公尺長的纜線和額外長度的 PCB 軌跡線(主機是 5 英吋,元件是 11 英吋)來測試實體層特性。

透過相容測試確保產品具電氣互通性

他們的目標是透過相容性測試,確保其 USB 3.0 產品具備絕佳的電氣互通性。然而,少數幾個產品樣品通過相容性測試,並不代表這款產品在不同條件下,或在採用新的製程後,還具有同樣的效能。在此情況下,餘裕測試可讓設計人員對產品相容性深具信心。

安捷倫科技對測試流程的要求即十分嚴格,我們為工程師提供各種先進量測儀器,確保他們能夠按照標準,測試元件和裝置的特性。許多情況下,我們還提供各種執行測試的方法。我們不只是銷售儀器,同時還竭盡全力協助他們以最有效的方式分析元件特性。

為了銷售完整的特性分析解決方案,我們需要深入地瞭解USB標準的規格。安捷倫是 USB 應用廠商論壇(USB-IF)的重要成員,我們非常瞭解這項標準,而且對標準制定貢獻卓著。藉由積極參加這些標準的制定,安捷倫為 USB 設計工程師提供兩大優勢,首先,可根據工程師的需求,適時地推出合適的產品。其次,由於安捷倫積極參與各種插拔大會、研習營和研討會,因此能夠隨著標準的演進,推出最合適的解決方案,讓工程師能夠藉此設計出最可靠的產品,這是其他儀器廠商望塵莫及的優勢。

新的 USB 3.0 標準將大幅增強各種電子元件的效能。安捷倫已經為工程師們準備好了所需的測試與量測工具,可協助他們克服一切困難,更快地設計並推出符合標準的全新元件。[本文內容為安捷倫科技USB產品經理Jim Choate提供]

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