技鼎於SEMICON發表高階MEMS微細探針技術

技鼎微機電探針(MEMS probe)可應用在半導體前段測試，2.0 mil微機電探針頭(MEMS Vertical Probe Head)影像。

有鑑於台灣半導體前段測試用的高階垂直式探針卡，皆須仰賴進口，主因是其上的高精度微細探針技術門檻高，台灣未能完整提供。為此技鼎(Premtek)應用開發多年、自有的微機電(MEMS)技術，成功的開發應用在垂直探針卡(Vertical Probe Card)用之高階微機電微細探針(MEMS Probe)，其具高精度、高機械強度等特色，且可完全客製化，最小的等效直徑達1.0 mil。

技鼎希望本土化製造技術，可以快速解決客戶技術上的問題，並協助客戶創造更大的效能及效益。

本次9月2日至4日「SEMICON Taiwan 2015國際半導體展」，技鼎將展示應用在垂直探針卡(Vertical Probe Card)之微機電微細探針(MEMS Probe)、探針頭(MEMS Vertical Probe Head)、及可平行測試112顆之記憶體用微機電探針卡(MEMS Probe Card)、以及用於記憶體測試之KGD探針卡。

展示攤位號碼：M450；歡迎業界先進蒞臨參觀指教。