NI半導體測試系統 開啟ATE測試新未來

美商國家儀器 (National Instruments；NI)將於9月3日至9月5日於「2014 SEMICON Taiwan 國際半導體展」發表最新半導體測試儀，歡迎前往NI攤位(台北世貿南港展覽館4樓，攤位號碼：134)共同探究、了解NI最新半導體測試系統。

半導體晶片的設計難度不斷提升，並需要更高階的測試系統描述效能特性，且進一步提高了測試成本。NI透過高彈性的硬體平台PXI，與多Site平行測試排程軟體，以降低晶片測試的成本。

全新的NI半導體測試系統(Semiconductor Test System；STS)，適用於RF和混合式訊號生產測試，並搭載Port Module可同時進行多埠的 S參數與調變訊號測試，目前已有多家半導體領導公司採用，大幅提升效能與降低成本。此款半導體測試系統，將是NI 2014年半導體展最大的重頭戲。

除此之外，我們亦將於現場展示半導體領域各相關應用解決方案，藉由PXI平台的彈性與高效能，將可為您帶來極高的工作績效與成果，竭誠歡迎您蒞臨美商國家儀器攤位參觀指教。