蔡司攜「Chip-to-Rack」全鏈品質方案登COMPUTEX論壇 品質驅動AI競爭力 智慧應用 影音
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蔡司攜「Chip-to-Rack」全鏈品質方案登COMPUTEX論壇 品質驅動AI競爭力

  • 鄭宇渟台北

蔡司台灣參加2026台北國際電腦展,也首度受邀帶領品質議題站上電腦展官方論壇,並舉行技術白皮書啟動儀式與產業代表共襄盛舉。左起為台灣工業量測資應用服務經理朱紹宇、蔡司顯微鏡全球銷售負責人Tonmoy Kundu、蔡司台灣總經理蔡慧、蔡司工業量測全球電子業務負責人嚴子登、廣達副總經理魏智章、蔡司工業品質與研究執行委員會成員Richard Gärtner、蔡司工業量測解決方案亞太區銷售總經理Roger Bayer、蔡司大中華區總裁Martin Fischer、蔡司半導體光罩解決方案全球業務負責人Axel Zibold。台灣蔡司
蔡司台灣參加2026台北國際電腦展,也首度受邀帶領品質議題站上電腦展官方論壇,並舉行技術白皮書啟動儀式與產業代表共襄盛舉。左起為台灣工業量測資應用服務經理朱紹宇、蔡司顯微鏡全球銷售負責人Tonmoy Kundu、蔡司台灣總經理蔡慧、蔡司工業量測全球電子業務負責人嚴子登、廣達副總經理魏智章、蔡司工業品質與研究執行委員會成員Richard Gärtner、蔡司工業量測解決方案亞太區銷售總經理Roger Bayer、蔡司大中華區總裁Martin Fischer、蔡司半導體光罩解決方案全球業務負責人Axel Zibold。台灣蔡司

蔡司集團帶領品質議題首次登上台北電腦展論壇(COMPUTEX Forum 2026),以AI晶片到機櫃(Chip-to-Rack)全價值鏈品質創新為主題,分享晶片、高頻寬記憶體(HBM)、載板、PCB、液冷及共同封裝光學(CPO)的品質解決方案,也顯示品質議題正從製造端的支援角色,轉變為直接影響AI伺服器關鍵零組件效能、良率與交付能力的關鍵要角。

隨著運算需求快速攀升,製造商正面臨前所未有的訂單量,但真正的挑戰在於如何以穩定一致的品質進行大規模交付。蔡司正與台灣完整AI伺服器價值鏈合作,協助產業建立一致且可規模化的品質能力。

蔡司台灣總經理蔡慧表示,將持續深化「Taiwan to Global」營運策略,結合竹科創新與2026年啟用的品質卓越中心,支持台灣電子與半導體產業發展,接續2026年參展COMPUTEX展現蔡司深度鏈結台灣市場與供應鏈。台灣蔡司

蔡司台灣總經理蔡慧表示,將持續深化「Taiwan to Global」營運策略,結合竹科創新與2026年啟用的品質卓越中心,支持台灣電子與半導體產業發展,接續2026年參展COMPUTEX展現蔡司深度鏈結台灣市場與供應鏈。台灣蔡司

蔡司工業品質與研究執行委員會成員Richard Gärtner、蔡司工業量測解決方案全球電子業務負責人嚴子登分享蔡司品質解決方案應用在半導體晶片端、PCB電子元件、液冷系統、光通訊與記憶體等AI伺服器關鍵元件,因應AI產業快速迭代與高度精密的需求。台灣蔡司

蔡司工業品質與研究執行委員會成員Richard Gärtner、蔡司工業量測解決方案全球電子業務負責人嚴子登分享蔡司品質解決方案應用在半導體晶片端、PCB電子元件、液冷系統、光通訊與記憶體等AI伺服器關鍵元件,因應AI產業快速迭代與高度精密的需求。台灣蔡司

蔡司T-SCAN HAWK 2手持式藍光掃描儀結合自動化量測方案,於特定應用情境下可提升50%–80% 掃描效率。現場展示AI伺服器機櫃外殼與液冷分歧管等關鍵零組件掃描應用,快速檢測尺寸與形變,滿足產業高標準品質要求。台灣蔡司

蔡司T-SCAN HAWK 2手持式藍光掃描儀結合自動化量測方案,於特定應用情境下可提升50%–80% 掃描效率。現場展示AI伺服器機櫃外殼與液冷分歧管等關鍵零組件掃描應用,快速檢測尺寸與形變,滿足產業高標準品質要求。台灣蔡司

工業CT斷層掃描系統(3D X-ray / Metrotom 1500)具備無損檢測解決方案,能在不破壞樣件情況下偵測並分析隱藏缺陷,降低成本、提升效率與生產品質,已廣泛用於AI伺服器價值鏈關鍵元件品質檢測,包含液冷零組件、伺服器PCB、連接器產業。台灣蔡司

工業CT斷層掃描系統(3D X-ray / Metrotom 1500)具備無損檢測解決方案,能在不破壞樣件情況下偵測並分析隱藏缺陷,降低成本、提升效率與生產品質,已廣泛用於AI伺服器價值鏈關鍵元件品質檢測,包含液冷零組件、伺服器PCB、連接器產業。台灣蔡司

自動化結合AI軟體辨識缺陷已成為快速迭代的AI伺服器主流:工業光學顯微鏡和Axio Imager可以符合不同解析度需求,快速定位PCB切片中可能缺陷位置。台灣蔡司

自動化結合AI軟體辨識缺陷已成為快速迭代的AI伺服器主流:工業光學顯微鏡和Axio Imager可以符合不同解析度需求,快速定位PCB切片中可能缺陷位置。台灣蔡司

工業電子顯微鏡(Microscope EM / EVO)可進行樣件金相分析、材料分析以鑑定物件失效原因提升製造品質。台灣蔡司

工業電子顯微鏡(Microscope EM / EVO)可進行樣件金相分析、材料分析以鑑定物件失效原因提升製造品質。台灣蔡司

蔡司O-INSPECT光學接觸式複合機結合自動化解決方案,可因應量產需求,快速檢測液冷冷板平整度,協助提升散熱效率與產品品質,符合AI伺服器對高效散熱與精密製造日益提升的標準。台灣蔡司

蔡司O-INSPECT光學接觸式複合機結合自動化解決方案,可因應量產需求,快速檢測液冷冷板平整度,協助提升散熱效率與產品品質,符合AI伺服器對高效散熱與精密製造日益提升的標準。台灣蔡司

蔡司以「Innovation Powering AI」為主題,再度參與全球指標性AI與科技盛會COMPUTEX 2026,展示從晶片到機櫃(Chip-to-Rack)的完整品質解決方案,攜手產業夥伴推動AI時代的品質創新。台灣蔡司

蔡司以「Innovation Powering AI」為主題,再度參與全球指標性AI與科技盛會COMPUTEX 2026,展示從晶片到機櫃(Chip-to-Rack)的完整品質解決方案,攜手產業夥伴推動AI時代的品質創新。台灣蔡司

蔡司集團工業量測、顯微鏡、半導體跨事業體的品質解決方案,涵蓋晶片、印刷電路板(PCB)、散熱、連接與機櫃系統整合等關鍵環節。相關技術包含非破壞性3D X-ray顯微鏡和斷層掃描、電子顯微鏡,結構光與三次元量測儀(CMM),支援從失效分析(FA)到在線與線邊(inline/at-line)檢測與自動化應用,全面提升AI硬體的良率與可靠性,實現全價值鏈的品質覆蓋。

蔡司總部工業品質與研究(Member of the Management Board Industrial Quality & Research)執行委員會成員Richard Gärtner:「蔡司以完整技術組合涵蓋CT電腦斷層掃描方案、藍光掃描、光學顯微影像、電子顯微影像、3D X-ray顯微技術與半導體製造科技,從微影光學、光罩修復、材料分析、IC組件無損檢測、先進封裝、3D量測與缺陷分析、製程驗證到系統組裝,提供AI伺服器硬體升級所需的一站式品質解決方案,實現從晶片到機櫃的全面品質管理。」

蔡司工業量測解決方案全球電子業務負責人嚴子登:「蔡司新一代品質量測與檢測技術,可應用在半導體晶片端、PCB電子元件、液冷系統、光通訊與記憶體等關鍵元件,可在相同解析度下大幅提升檢測效率,縮短驗證與量產導入時間,同時降低抽檢、人力與重工成本,應用於供應鏈並為原始設計製造商(ODM)客戶提供完整品質解決方案,以符合客戶對速度、成本控制,以及AI產業快速迭代的核心需求。」

蔡司台灣總經理蔡慧:「隨著蔡司竹科創新中心的成立,我們強化蔡司台灣在全球半導體布局中的關鍵角色,並持續深化Taiwan to Global策略,將台灣的研發能量與創新成果推向全球。2026年蔡司台灣也正式啟用台中蔡司品質卓越中心,此中心運作皆由台灣在地工程師團隊主導,結合蔡司全球工業量測資源,實質支持台灣電子與半導體產業發展;透過品質卓越中心與竹科創新中心的雙軸布局,我們將持續串聯台灣半導體、高科技製造與科研生態,攜手產業夥伴推動創新升級。」

品質技術革新  AI硬體全面升級

隨著AI伺服器機櫃價值持續攀升,且系統設計朝高功率、高密度與精密化發展,品質正從製造端的支援角色,轉變為直接影響效能、良率與交付能力的關鍵要素。在高價值關鍵瓶頸製程中,透過先進無損檢測技術,特定應用甚至可達20-30%相對良率提升。此類效益在液冷模組、高速互連與系統組裝等高複雜度應用領域尤為顯著。

從失效分析走向製程檢驗  提升良率與效率

蔡司首次將品質從失效分析(FA)延伸至製程端在線檢測(inline) 檢測,結合自動化與即時量測方案,在特定應用場景,例如PCB導入無損檢測,最高可降低80%品質相關成本,並於製造早期確保關鍵元件品質,大幅提升整體良率與生產效率。

品質驅動新技術落地 加速AI算力演進

面對AI伺服器產業的高壓直流(HVDC)與「光進銅退」趨勢,蔡司針對電力模組(如SST、Busway、Supercapacitor、VPD)與光通訊元件(如高速光收發器、雷射元件、光纖陣列單元FAU、調變器)提供對應品質解決方案,協助產業在新技術導入下兼顧效能、可靠度與量產效率。展會期間亦與AI伺服器產業供應鏈進行技術交流,探討品質如何加速新產品創新。