宇瞻SiC晶圓量測設備首度亮相 強攻高精度檢測應用 智慧應用 影音
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宇瞻SiC晶圓量測設備首度亮相 強攻高精度檢測應用

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    韓青秀台北

記憶體模組廠宇瞻布局AOI檢測商機,並參加2026台北國際自動化工業大展,首度展出搭載SD-OCT高精度3D量測技術的「SiC晶圓/玻璃尺寸量測設備」,呈現從2D外觀瑕疵檢測到3D精密量測的完整AI+AOI視覺檢測應用。此外,在半...

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