致茂電子於SEMICON展TAIWAN-TAP Pavilion專區發表業界首創PXI半導體測試模組新技術 智慧應用 影音
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致茂電子於SEMICON展TAIWAN-TAP Pavilion專區發表業界首創PXI半導體測試模組新技術

  • 陳昌博台北

PXI系統是為一個開放性的工業平台,目前PXI的系統已廣泛且成功地應用於汽車測試、半導體測試、功能性測試、航空設備測試以及軍事的應用之上。相較於現有的半導體測試業界的測試設備,PXI測試系統具備高效能與低成本優勢,成為量測儀器產業新星。身為專業量測儀器廠商也同時為PXI聯盟執行成員(Executive Member)的致茂電子在對於PXI的推廣更是不遺餘力,在結合強大的技術資源,提供業界首創的PXI半導體測試模組。

從產品的發展應用趨勢及客戶群來看,致茂電子產品經理紀瑞峻表示,目前致茂已成功研發出PXI平台的半導體邏輯訊號測試模組,使用PXI介面的標準機箱,提供100MHz可程式數位訊號測試模組(Model 36010),該模組由一支援眾多循序控制指令的測試向量控制卡以及邏輯腳位訊號卡(Logic Pin Electronics Card)所組成,用以發出待測品所需的電性訊號,並接受待測品因此訊號後所回應的電性訊號而作出產品電性測試結果的判斷。每一邏輯腳位訊號卡有8個I/O通道,且採用Per-pin架構設計,每一I/O通道均配備有32M的測試向量記憶體(Vector Memory)、32組的時序設定、32組的波型(Waveform)設定以及參數量測所需的PMU功能。另外,該模組也具備擴充功能,每一張測試向量控制卡最多可支援8張邏輯腳位訊號卡,以提供最多64個I/O通道,並可同時測試8個DUT。在功能與效能的表現上,與現有大型的IC測試機台相當,能提供快速且準確的測試,而其價格卻是只要傳統設備1/3左右的價格。


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