愛德萬測試推出Pin Scale 5000B 強化V93000 EXA Scale測試能力

愛德萬測試推出Pin Scale 5000B數位測試解決方案，強化V93000 EXA Scale平台效能，支援次世代HPC與AI元件測試需求。愛德萬測試

全球領先的半導體測試解決方案供應商愛德萬測試今日隆重推出針對V93000 EXA Scale平台設計之升級版數位測試解決方案Pin Scale 5000B，新方案專為因應先進人工智慧（AI）與高效能運算（HPC）元件日益增加的測試需求而打造。

隨著先進製程節點、異質整合與小晶片（chiplet）架構持續發展，AI及HPC半導體功能與複雜度亦快速成長。這類元件對結構性與功能性測試覆蓋率的要求大大提高，同時也需處理急遽增加的測試資料量。

Pin Scale 5000B測試卡大幅擴充所搭載的向量記憶體，提供具備深度且可擴充的儲存能力，符合產業需求。其軟硬體設計促進小晶片架構有效運用記憶體，有助客戶降低整體系統資源消耗與相關成本，同時滿足未來日益成長的記憶體需求。此外，最新Pin Scale 5000B亦能幫助客戶高效拓展現有之測試程式與硬體配置，以因應不斷變化的元件需求。

這套解決方案可支援現代掃描架構（scan fabric architectures），透過串流方式同時測試多個IP核心。其最新硬體功能可在單一測試向量（test pattern）執行期間，同時觀察跨核心的測試結果，即時掌握各核心間的錯誤分布。這些功能有助提升結構覆蓋率與核心層級可視性，大幅縮短測試時間、降低測試成本（CoT）。

Pin Scale 5000B支援高頻寬測試，透過成熟的Pin Scale 5000腳位訊號架構，提供高達5 Gbps的資料傳輸率。Pin Scale 5000B是與現有Pin Scale 5000完全相容的超集合（superset），進一步豐富V93000產品組合。

愛德萬測試V93000產品事業部執行董事暨部門經理Ralf Stoffels指出：「隨著AI與HPC元件在規模與整合方面持續突破極限，半導體測試解決方案勢必得跟著快速提升。Pin Scale 5000B在既有成熟的Pin Scale 5000測試卡基礎之上補完、進化，進一步擴增V93000 EXA Scale平台功能，提供客戶所需的效能與可擴充性，以因應日益複雜的元件測試需求。」

Pin Scale 5000B數位測試儀器已獲主要客戶青睞導入量產。