宜普公司發佈第十階段可靠性測試報告

宜普電源轉換公司(EPC)發布第十階段可靠性測試報告，成功通過車規級AEC-Q101應力測試認證。AEC-Q101認證要求功率場效應電晶體符合最高的可靠性標準，不僅僅要求元件符合數據表內所載的條件而沒有發生故障，也同時要求在應力測試中，具有低漂移。EPC所採用的晶圓級晶片尺寸封裝(WLCSP)也符合所有針對傳統封裝的測試標準，展示出該封裝具備卓越效能之同時沒有影響到元件的穩固性或可靠性。

第十階段可靠性測試報告探討了超越AEC-Q101認證要求的可靠性測試，從而深入瞭解可導致元件發生故障的各種獨特機理。報告內的一個章節描述在硬開關時，測試極端的動態導通阻抗。測試結果顯示，氮化鎵(eGaN)元件在長期、不間斷的開關情況下，仍然可以穩定地工作。

第三個章節進一步探討第六階段可靠性測試報告中的加速應力測試。除了繼續監測閘極漏電流外，在每個間距限定其他元件的參數(VTH及IDSS)在高閘極應力的情況下，這些數據可以看到更全面的元件衰減情況，從而看到多個獨立物理故障機理。測試結果表明，氮化鎵場效應電晶體(eGaN FET)的閘極是非常穩固及可靠的。

宜普電源轉換公司首席執行長兼共同創辦人Alex Lidow博士表示，氮化鎵(eGaN)元件投入量產超過9年，以及在實驗室和客戶的應用中的測試結果都顯示eGaN器件是非常可靠的。

客戶的應用廣泛，例如面向全自動駕駛車輛的雷射雷達、4G通信基地台及衛星等應用。發布這份可靠性測試報告，繼續監測氮化鎵元件以符合業界嚴格的標準，以及與功率轉換工程師分享報告結果，確定超過30,000個EPC元件在經過1,800萬小時以上的應力測試後，沒有任何元件發生故障。