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愛德萬測試VOICE 2020登場,論文徵稿即日開跑

  • 陳其璐

新竹訊

由愛德萬測試(Advantest Corporation)主辦的國際性VOICE 2020開發者大會,即日起開始徵集論文。VOICE兩場次會議分別訂於2020年5月12日、13日在美國亞利桑那州斯科茨代爾(Scottsdale)以及22日在中國上海盛大登場。本屆大會VOICE 2020將涵蓋5G、毫米波和參數測試等技術主題,另外更安排全天技術研討會。

大會主席暨超微(AMD)資深產品開發工程師Adam Styblinski表示,VOICE 2020以「你的聲音、你的願景、我們的價值」為標語,這也是愛德萬測試與客戶共享的合作願景和價值。同時,大會探討的議題,反映客戶在測試技術方面未來應用端和市場定位的挑戰。這場一年一度的盛會,聚集世界頂尖的整合元件製造公司(IDM)、晶圓廠、IC設計公司和專業委外封測代工(OSAT)供應商,共同討論最新科技動態、激盪新創意,並分享最佳實用範例相互交流。

VOICE 2020論文徵稿

論文徵稿七大技術領域:元件/系統級測試、5G/毫米波、參數測試、測試方法、軟硬體設計整合、T2000和熱門議題。元件/系統級測試包括特定流程、多輸入多輸出技術(MIMO)、次世代嵌入式處理器、寬頻光纖到府、測試自駕車IC、以及多晶片系統級封裝 (SiP) 元件。5G/毫米波涵蓋5G通訊、WiGi和寬頻無線射頻(RF),並以5G : Made Real by Our Customers. Made Possible by Advantest為主題。

參數測試包括節省測試成本、提高產能、參數測試或晶圓級可靠度 (WLR) 新測試技術、工廠自動化和平台關聯性技術。測試方法包括遵循標準與協定、針對最新測試挑戰的解決方案、節省測試成本、提升產能以及加快上市時程。

軟硬體設計整合包括善用最新軟硬體功能和測試機與新測試系統強化。T2000平台用於測試自動化控制、電源IC、感測器鏡頭、微控制器、大量並測、以及SiP與針對觸控與指紋感測器之T6391顯示器驅動IC的系統級測試。熱門議題譬如市場脈動與未來趨勢;人工智慧、機器學習、深度學習、智慧資料創新/巨量資料分析、安全ID和網路安全、安全雲、影音串流/遠端視訊、以及物聯網 (穿戴式裝置、感測器、智慧城市和智慧家庭)。

測試開發人員和工程師,可將論文摘要投稿至美國或中國大陸的發表場次,投稿網址連結。VOICE 2020中國大陸場的論文發表全程以中文進行,不過摘要請以英文敘寫。徵件日期至11月4日,可於此期限前投稿,評選結果將於2019年12月通知。出席2020年5月VOICE大會的貴賓將會透過行動App票選心目中最優秀的論文,並於大會閉幕式上頒獎。