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以DirectFET建構高價值的MOSFET

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IR Sr. Field Application Engineer John Lin
IR Sr. Field Application Engineer John Lin

美商國際整流器公司(International Rectifier;IR)在MOSFET領域為技術領先的領導廠商,不僅其PQFN設計在價格、效能、可靠度,以及與既有PQFN footprints相容性...等方面一直都有良好的表現,針對現在綠色環保、節能減碳的產品發展趨勢,該公司新推出的DirectFET除繼續保有上述的優勢外,同時還具備有超低封裝電阻、高效率與高電力密度、second source、最佳熱能表現及最低封裝寄生電感效應…等特性,使得DirectFET在行動運算裝置上的效能/價格比,較其他封裝方式更高...

在封裝寄生電感效應的問題上,IR的Sr. Field應用工程師John Lin表示,傳統不論是BQFN、LF Pak、SO-8或Super SO8封裝,其在結構上一定都會有Lead frame或Wire Bonds出現,因而常會造成削弱旁路電容及減少電源系統整體濾波效用…等狀況。為此新的DirectFET採用die attach material,直接將Source及Gate connection銲在PCB板上,以便於消除Lead frame、Wire Bonds與bumped die,並將寄生電感效應降至最低。「這對於一些DC to DC的應用項目,如以乾電池驅動的手持裝置而言是相當重要的。」

DirectFET技術 提供優異的效能/價格比

也因此與其他封裝方式相比較,DirectFET在構造上可說是相對簡單。其做法是,將die包裹在一個銅質罐形殼帽中,並透過die attach material進行連接,而其底部為直接銲接在PCB板上的Source connection及Gate connection,至於銅質罐形殼帽同樣也是焊在PCB板上,整體厚度僅約0.7mm,這使得該封裝的電流要流向PCB板時,其所需要通過的元件數量得以大幅減少,與Wire bond或Cu clip PQFN相較,無芯片封裝電阻(die free package resistance;DFPR)亦可達到最低。根據該公司的研究發現,在假設同為1mΩ FET的情況下,DirectFET所增加的導通電阻(Rdson)僅有12%,而Cu-chip QFN與Wirebond QFN則分別高達30%及100%。

此外,DiectFET還有不錯的效率表現。以工作溫度攝氏25度,輸入電壓12V、輸出電壓1.2V、5Vdd及Fsw 300KHz的條件進行測試,當輸出電流等於20A時,即便是同1顆MOSFET,以DiectFET封裝的效率就要比以PQFN封裝的要快上2.5%。John Lin表示:「對於講求高效率的設備裝置而言,2.5%可是不小的差距。」而且即便是在其他輸出電流的情況下,DiectFET的效率同樣都比PQFN高出許多。

另一方面,當gate drive電壓增加並將FET打開時,其後續的效應將延後MOSFET的啟動,使得設備的整體開動時間延長,並造成switching loss的問題;而相反地,當驅動裝置關閉MOSFET時也會產生同樣的效果,為了解決此項問題,John Lin說:「DiectFET透過將layout最佳化的方式,降低控制FET在開關時的電感(Inductance),藉以減少開關時遞延的時間,使其switching loss及transition loss均得以減少,工作效率也因而能獲得提高。」

絕佳散熱效果 提升硬體作業效率

比較DirectFET、Wire bond PQFN及cu-Clip PQFN,DirectFET擁有最低的電感。依據IR所做的實驗,在DirectFET的Lds遠小於cu-Clip PQFN的一半,而較小的Lds也意味著設備的開關時間能夠縮短,commutation及transition loss也跟著減少。另外,也因為gate是直接焊在PCB上,而不像其他封裝需有gate wire連接,因此其Lg也很小。「Wire bond PQFN與cu-Clip PQFN均為1.40,DirectFET則僅有0.12,幾乎都有10倍的差距。」這也使得gate driver的工作效率提升。

Layout的最佳化也同時提高了DirectFET的散熱效果。「以往由於熱量大部分會散逸到PCB內,因此使用散熱器裝置來降低溫度的方式變得非常昂貴。」而在DirectFET的環境中,由於其CAN使用了7Oz的銅,因此電流會直接穿過CAN,而不必再經PCB(電路的銅只有1Oz),這不僅使得PCB本身所產生的熱量得以大幅減少,其造成的溫差更讓熱能可由die更快速地轉移到PCB中,還可以減少85%的PCB損耗,提高設備整體的作業效率。「雖然DirectFET顯示出的Junction-to-PCB的Rthjpcb值僅比PQFN略高(0.58 vs. 0.36),在3W的情況下,產生的溫差小於攝氏1度。」但John Lin表示:「最重要的是,整體所產生的熱量減少,設備溫度獲得降低,作業效率也跟著提升。」

而對於希望穩定PCB工作溫度,或是能快速排出PCB熱能,以增加其電流容量及效能的業者來說,DirectFET還提供了「雙面制冷」的能力,能夠顯著改善裝置的溫度。舉例來說,在相同的設備封裝與運作條件之下,DirectFET裝置面對在3W的能量散逸,還能夠維持在攝氏27度以下,Cu clip PQFN就難以做到。「此將減少10%的Rdson與Conduction Loss。」而在Junction-to-PCB方面,無論是與Cu clip PQFN或Wirebond QFN相較,DirectFET的Rthjc都有顯著優勢。「如果採用散熱器,DirectFET只會傳送70%的熱能到PCB,而PQFN會傳送高達95%。」

IR曾針對其以DirectFET封裝的IRF6721/6725與IRF6721/6729兩款產品,在19.6Vin、5Vcc、1.2Vout、25C、無空氣對流、無散熱器…等條件的環境下,進行Output I與效率的測試,發現約在5A的Output I左右,其工作效能最高,分別可達90%以上,接近90.5%,以後則大致呈現線性下滑的趨勢。John Lin補充:「至30A時,其效率大約落在84%±1%的水準。」而其針對IRF6710S2與IRF6795M在Tj V.S. FIT rate,以及Tj V.S. MTBF的分析數據亦顯示,使用DirectFET封裝設計的IR MOSFET裝置,其在穩定性與可靠性方面的表現均極佳。

無鉛封裝技術 超越歐盟ROHS規範

John Lin強調,DirectFET封裝設計不僅是唯一真正無鉛的封裝技術,完全超越歐盟電子電機設備中危害物質禁用指令(Restriction of the use of certain hazardous substance in EEE;ROHS)的要求,還因其簡單的架構而具備卓越的可靠度。「在所有的IR封裝中,DirectFET的Customer return rate小於0.8ppm,也是其中最低的。」此外,在有/無散熱器均有良好表現的熱量控制,以及最低封裝寄生電感效應,可減少電能耗損的特性,更使其成為封裝業者的理想選擇。

而除了DirectFET之外,IR於近期也開始積極發展PQFN的新特性。如結合該公司60餘年來在電源管理方面的經驗,並將其在鑄造與組裝上的能力最佳化,以強化PQFN 5x6的功能,縮短其lead-time的時間,以便於更快地滿足客戶對於生產周期循環的需求,創造MOSFET更大的效益。John Lin說:「我們還會進一步改善設備,提高gate的閥值,以避免shoot-through或Cdv/dt開啟的問題。」目前IR的Typ Vgs已達1.8(th),與其他競爭者相較是最高的。

至於新的PQFN 2x2則是在所佔面積上進行改良。「與同級的SO8需佔用5mm x 6mm的面積相較,PQFN 2x2所需使用面積只有其13%,便能取得相同或更好的效率及熱量管理效果。」根據IR的實驗資料,在Vi為19V、Vo為3.3V、Fsw為300kHz、工作溫度攝氏25度、無空氣對流的條件下,PQFN 2x2搭配PQFN 3x3作為Sync FET,SO8的功率曲線與其非常接近,但前者的總使用面積為13 mm2,而SO8為60 mm2,「足足減少了78%。」而若希望取得更好的效率,製造商亦可額外平行搭配2顆PQFN 2x2作為Sync FET,其面積則分別為12 mm2與60 mm2,所佔面積減少80%。

以IRFHS8342作為Control FET,IRLHS6342作為Sync FET,會非常適合運用於需要經常進行高度負載的設備。此次與另外一家F公司的封裝產品比較,在相同的測試條件與工作效率之下,IR公司的解決方案總佔面積僅為8mm2,而F公司還是需要18mm2,IRFHS8342搭配IRLHS6342可省56%的使用面積。

根據IR公司的表列,目前其適用於行動裝置應用的PQFN 2x2共有IRFHS8342、IRFHS6342、IRFHS8242、IRFHS6242…等9種,BVDSS的分布由30V到-30V不等。至於在低電壓的DC-DC應用,也有Control FET為IRLR8729,sync FET為IRLR8726…等各種不同排列組合的搭配,業者可依自己在設計規劃上的需求,再根據產品的特性,進行最佳的選擇。