專為高階28奈米設備及3D架構設計 惠瑞捷推出可擴充等級測試機V93000 Smart Scale 智慧應用 影音
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專為高階28奈米設備及3D架構設計 惠瑞捷推出可擴充等級測試機V93000 Smart Scale

  • 李洵穎台北

自動化測試設備商愛德萬(Advantest)集團旗下子公司惠瑞捷(Verigy)發布半導體產業首見可擴充、具成本效益的測試機種V93000 Smart Scale,專為3D設備架構及28奈米設計的高階半導體量身打造。

台灣惠瑞捷總經理陳瑞銘表示,Smart Scale系列為創新智慧型測試機,採用per-pin架構設計,與惠瑞捷生產驗證V93000平台完全相容。智慧測試主要特色為每個針腳皆可依其時脈域測試,透過確切比對該設備須測試的數據率要求達到全面的測試。其他功能包括供電調節、顫動注入及設定通訊;模擬系統壓力測試(System-Like Stress Test)可達自動化測試設備等級,增進故障覆蓋率。

惠瑞捷測試事業部副總 Hans-Juergen Wagner 表示,該公司以創新V93000 Smart Scale Generation測試系統與針腳量測模組展現引領智慧測試方式科技領域的能力,提供客制化方案,降低客戶的測試成本。

陳瑞銘指出,Smart Scale測試機等級分別為A、C、S與L等4種,各有不同尺寸的測試頭,惠瑞捷以最具成本效益的方案供各用戶具體運用滿足不同的需求。因測試機等級彼此相容,當IC生產數量因設備壽命有所調整,用戶可簡捷快速地自任一Smart Scale等級調整至另一等級;目前尚無其他自動測試設備廠商能夠做到這點。

惠瑞捷的獨特設計技術表現於並行測試與產業首見的全能晶圓測試方案:測試高階晶片內建系統單晶片(SOC)設備、系統級封裝(SiP) 設備與晶圓級晶片封裝(WLCSPs)的嚴格產能需求。


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