愛德萬推全新T2000整合性大量並列同測方案

全球測試領導大廠愛德萬測試(Advantest)宣布推出全新T2000整合性大量並列同測(IMS)解決方案，為內建整合類比電路與內嵌快閃記憶體電路的微控制器測試實現最低成本。Advantest將於2012年12月5~7日在日本千葉縣幕張國際展覽中心舉辦的SEMICON Japan國際半導體展上展出此套新系統，Advantest於SEMICON Japan的攤位為第8館8C-901號。

Advantest全新整合性大量並列同測解決方案(IMS)並列同測能力達256個元件，提供高產出與高速功能，並行測試效率可超過99%。此機台採通用接腳架構，可管理208個不同通道的資源，提供最佳彈性。

愛德萬測試SOC測試事業體執行長暨執行副總裁Toshiyuki Okayasu博士表示，拜全新T2000 IMS系統高效率大量並行同測能力之賜，Advantest將能在最講求成本效益的微控制器(MCU)與智慧卡晶片領域中擴大市佔率。這套系統的最大優勢，在於它採用了通用接腳架構，只需單一系統即可支援大規模並行同測，完全有別於其他自動化測試設備公司的設計，這些公司採用多套模組，且以極複雜的效能電路板管理這些模組，才能達到Advantest這套一體化IMS模組相同的成效。

Advantest的設計使效能電路板化繁為簡，不但降低測試成本，同時也因為通用接腳架構讓效能電路板更易於維護，這點對於海外生產據點來說，尤其有助於避免一再發生製造成本問題。